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網絡分析儀N5232B維修

所屬分類:網絡分析儀維修

產品型號:

更新時間:2023-03-06

描述:N5221A N5221B N5222A N5222B N5224A N5224B N5225A N5225B N5227A N5227B N5230A N5230C N5231A N5231B N5232A N5232B N5234A N5234B N5235A N5235B N5241A N5241B N5242A N5242網絡分析儀N5232B維修

詳細信息

網絡分析儀N5232B維修

可維修PNA微波網絡分析儀N52XX系列:
N5221A  N5221B  N5222A  N5222B  N5224A  N5224B  N5225A  N5225B  N5227A  N5227B  N5230A N5230C  N5231A  N5231B  N5232A  N5232B  N5234A  N5234B  N5235A  N5235B  N5241A  N5241B N5242A  N5242B  N5244A  N5244B  N5245A  N5245B  N5247A  N5247B  N5249A  N5249B  N5250A N5250C  N5251A  N5260A  N5264A
N5264B  等安捷倫/Keysight是德已過保修期網絡分析儀維修

 

維修(xiu)故障

 1、電(dian)源(yuan)故障(zhang):開不(bu)了機

 2、端口(kou)故障:端口(kou)沒有響(xiang)應、端口(kou)損(sun)壞、無輸出(chu)、無接收、信號異常、調檔不(bu)正常、傳輸不(bu)準、接收不(bu)準

 3、測試分(fen)析故障: 測試結(jie)果異常、校(xiao)準失敗、超(chao)差、鎖相(xiang)丟失、阻(zu)抗不準

 4、顯示故障(zhang):花屏(ping)、黑屏(ping)、拖(tuo)屏(ping)

 5、按(an)鍵故障:按(an)鍵失靈、調節旋鈕沒響應

 6、接口故障:不(bu)認存儲介質、不(bu)能與(yu)控制系統聯(lian)機

 7、系統(tong)(tong)故障:進不了系統(tong)(tong)、系統(tong)(tong)中毒(du)

 8、以及其他(ta)使用問題(ti):開機(ji)報錯、自檢(jian)報錯....

 

維修一覽

 

維修流程(cheng):

免(mian)費檢測(ce),檢測(ce)之(zhi)后報(bao)價

用(yong)戶同(tong)意(yi)維修,即開始維修

用戶拒絕(jue)維修,即返回儀器(不收取任(ren)何費用)

關于我們:

 深圳邁科微(wei)儀器維修中(zhong)心成立于2014年,專業從事進口測試測量儀器維修,具備國外進口儀器芯片、元器件、模塊級維修技術。由豐富經驗超過15年的工程師組成,歷經大(da)浪淘沙(sha)和(he)早期測(ce)試測(ce)量儀器維修行業(ye)空(kong)白(bai),經過不(bu)斷(duan)研究與探索到(dao)達行業(ye)。

積累(lei)了多元化的(de)(de)檢測故(gu)障與快速故(gu)障定(ding)位的(de)(de)技術,與靈活修復的(de)(de)多種維修方法(fa)。

 

  • 超過15年對進(jin)口射(she)頻與微波儀器(qi)維修經驗
  • 專業(ye)維修設(she)備,利用設(she)備可提高(gao)效率(lv)和維修質量
  • 元器件級維修、芯(xin)片(pian)級維修、模塊級維修,實現故障問題均能(neng)修,成(cheng)本低(di)
  • 不收取任何(he)檢測費用,且(qie)可(ke)實現免(mian)拆講解(讓用戶(hu)修得心中有(you)底)
  • 專業技術(shu)團隊,提供進口電(dian)子(zi)射頻(pin)與(yu)微波儀(yi)器全(quan)方W技術服務

?網絡分析儀N5232B維修

邁科微儀器維修中心
地(di)址:深圳市(shi)龍(long)華區石清大(da)道半里大(da)廈C9層

 

主要技術指標
N5232B PNA-L微波網絡分析儀,20 GHz
大頻率20 GHz
動態范圍122dB
輸出功率6dBm
軌跡噪聲0.003dBms
內置端口數量2 ports
諧波-33dBc
本底噪聲-116dBm
掃(sao)描速(su)度高達201個點6ms

主要特性和功能
對無源元器件和簡單的有源器件執行基本分析
適用于對成本非常敏感的應用,可以在高達20 GHz的頻率范圍內確測量S參數
具有出色的性價比,可用于微波器件制造測試
可以配置經濟型解決方案,用于信號完整性測量和材料表征
多(duo)點(dian)觸控屏和直觀(guan)的(de)用戶(hu)界面加速對元器(qi)件特性的(de)分析

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